Direkte Dock Stil Wafer probing ermoglicht eine hohere Bandbreite erhoht, Pin-Dichte und weitere Gerate parallel zu testen. Direkte Dock Prufkarten unterstutzen auch die wachsende Bewegung der traditionellen letzten Test auf wafer-Sonde die bekannt gute sterben (KGD) zulaSt und reduzierte Betriebskosten.
SV TCL bietet viele Such-Losungen mit diesem neuen Test Paradigma einschlieSlich TrioTM traditionellen vertikal, LogicTouchTM MEMS vertikal und SpringTouchTM Druckknopf Technologien ausrichten. Unsere schluSelfertigen Dienstleistungen sind ideal fur direkte Dock, konnen wir Ihr gesamte Projekt von PCB-Design, Sonde-Karteneinheit und alles dazwischen behandeln.
* SchluSelfertige Services verfugbar
-PCB/MLO Design & Fab
-Bestuckung
-Elektrode-Karteneinheit
-PCA
* Anwendungen unterstutzt
-Digital
-SOC
-RF
Kontaktieren Sie Ihre SV-TCL-Vertretung, damit wir, braucht das richtige Direct Dock-Produkt helfen konnen fur die vertikale Tests zu finden.